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清水 滋; Zhang, Q.; 梶本 与一; 川崎 朋克; 藤井 克年
JAERI-Tech 2003-095, 52 Pages, 2004/01
JAERI-Tech-2003-095.pdf:2.66MB
国際標準化機構の国際規格ISO4037-1では、放射線防護用測定器の性能試験に用いるX線基準場が設定され、世界的に適用している。原研の現行のX線基準場は、国内の利用を前提として構築されているため国内規格に適合しているが、上記国際規格とは異なっている。このため、国際的な性能試験に対応させるため、国際規格に準拠したNarrow series, Wide series及びHigh air-kerma seriesのX線基準場を、原研放射線標準施設棟の中硬X線照射装置を用いて整備した。本論文では、整備したX線場の線質設定,各線量単位のX線スペクトル等の評価を行うとともに、上記国際規格の線質やX線スペクトルとの比較を行った。この結果、原研のX線基準場の線質は、国際規格の線質とよく一致していることが確認でき、これにより放射線防護用測定器の広範囲な性能試験を国際規格に基づいて実施できることになった。
阿部 健*; 斎藤 究*; 藤 健太郎; 小嶋 拓治; 酒井 卓郎
JAERI-Review 99-025, TIARA Annual Report 1998, p.103 - 105, 1999/10
イメージングプレート(IP, 組成BaFBr:Eu
)を用いてサイクロトロンから得られるイオンビームの線種、エネルギー弁別測定技術を開発するため、輝尽発光のLET特性の機構に関する研究を行った。この結果、IPの励起スペクトル応答における線種・エネルギー依存性が、入射イオンの蛍光体層への侵入深さによるものだけでなく、特に重イオンでは入射イオンのLET効果にもよることが、スペクトル成分の分離解析によりわかった。また、このLET効果は、IP中のBr及びFのF
センターのレベルに相当するスペクトルに現れていることが明らかになった。さらに、1kGy以上の線量域における輝尽発光量の低下は、基材のポリエチレンテレフタレートの劣化でなく、輝尽発光体の損傷によることがわかった。これらにより、IP応答のLET特性及びその機構をほぼ明らかにした。
松林 政仁; 小林 久夫*
第2回放射線シンポジウム講演論文集, p.130 - 135, 1997/10
本報告では、最近開発されたプロトタイプの中性子ラジオグラフィ用中性子ビーム線質計(BQI)を実用に耐えるよう改良を加え、製作した新BQIの概要を紹介する。さらに、本BQIを使用してJRR-3M中性子ラジオグラフィ装置(熱中性子ラジオグラフィ装置及び冷中性子ラジオグラフィ装置)の中性子ビームの線質をフィルム、中性子用イメージングプレート、冷却型CCDカメラ及びSIT管カメラを用いた影像システムにより測定・比較した結果についても報告する。
石塚 浩*; 川崎 温*; 久保 治也*; 渡辺 聡彦*; 志甫 諒
Japanese Journal of Applied Physics, 35(10), p.5471 - 5478, 1996/10
被引用回数：4 パーセンタイル：26.08(Physics, Applied)静電四重極レンズを使って、フィールドエミッターアレイより発生した電子ビームのエミッタンスを診断する新手法が得られた。
